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- 产品描述
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- 商品名称: SunScan 冠层分析系统
- 商品编号: 1387499011828240384
SunScan 冠层分析系统 用途：
通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
原理：
根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程(Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
软件计算:
Sunscan系统主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数（LAI），软件中涉及到的参数有：
直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中，天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的，叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的，其他的参数都是直接测量得出的。
组成：
SS1探头：一支1米长，内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器
SunData软件：用来对测量参数进行分析处理
BF5传感器：可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。内置自加热功能，减少雪冻影响。
三角架：用来安放BF5
数据采集终端：一种采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑。
基本技术指标：
SS1探测器
探测器工作区域
1000×13mm宽，传感器间距15.6mm
探测器光谱响应
400 ~ 700nm (PAR)
探测器测量时间
120ms
探测器分辨率
0.3μmol. m-2.s-1
探测器读数
2500μmol.m-2.s-1
操作温度
0 ~ 60℃
BF5
PAR测量范围
0-2500μmol.m-2.s-1（总的和散射）
PAR精度
总辐射
±10μmol.m-2.s-1±12%
散射
±10μmol.m-2.s-1±15%
工作温度
-20到+50℃
太阳总辐射测量范围
0-1250 W/m2
总辐射精度
总辐射
±5 W/m2±12%
散射
±20 W/m2±15%
光照度测量范围
0-200klux
光照度精度
总辐射
±0.6klux±12%
散射
±0.6klux±15%
电缆长度
标准为10米
RPDA2手持终端
屏幕
1/4VGA屏幕，太阳光下依然显示清晰
操作系统
Windows Mobile6
显示项目
LAI、PAR平均值、每个传感器的读数
手持终端工作环境
IP67防护等级，-30-60℃
1手持终端存储
支持>100M
产地：英国
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